Test d'un transistor NPN à l'ohmmètre : lectures attendues
Un multimètre analogique ou numérique en **Mode Test Diode** (préféré) ou **Gamme Ohms Faible** (×100, ×1k) peut vérifier les jonctions d'un BJT. **Retirer le transistor du circuit** — les chemins parallèles invalident les lectures.
Modèle jonctions NPN
Deux jonctions PN partageant la Base (P) :
- Jonction BE : Émetteur (N++) → Base (P). Côté émetteur fortement dopé.
- Jonction BC : Base (P) → Collecteur (N-). Côté collecteur faiblement dopé. Surface plus grande, claquage plus élevé.
Procédure de test et lectures attendues (Mode Diode = Chute tension directe)
| Test | Point Rouge (+) | Point Noir (−) | Biais Jonction | Bonne Lecture (Mode Diode) | Bonne Lecture (Mode Ohms) |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. BE Direct | Base (B) | Émetteur (E) | Direct | 0,60 – 0,75 V | Faible (100s Ω – quelques kΩ) |
| 2. BE Inverse | Émetteur (E) | Base (B) | Inverse | OL (Open Loop) | Très Élevé / OL |
| 3. BC Direct | Base (B) | Collecteur (C) | Direct | 0,60 – 0,75 V | Faible (similaire à BE) |
| 4. BC Inverse | Collecteur (C) | Base (B) | Inverse | OL | Très Élevé / OL |
| 5. CE (Les deux) | Collecteur (C) | Émetteur (E) | Les deux Inv. | OL | Très Élevé / OL |
| 6. EC (Les deux) | Émetteur (E) | Collecteur (C) | Les deux Inv. | OL | Très Élevé / OL |
Interprétation
- Deux chutes directes (BE, BC) + Quatre OL = Bon NPN.
- BE Direct < BC Direct : Normal (Émetteur plus fortement dopé → VF légèrement plus élevé au même courant de test).
- Résistance faible / Tension faible en Inverse : Jonction court-circuitée → **Mauvais**.
- OL en Direct : Jonction ouverte → **Mauvais**.
- Faible CE Dans Les Deux Sens : Transistor court-circuité (C-E court) → **Mauvais**.
Mises en garde critiques
- Polarité du multimètre : **Mode Diode : Rouge = Anode (+), Noir = Cathode (−).** *Certains multimètres bon marché inversent cela en mode Ohms.* Vérifier avec une diode connue.
- Courant de test : Mode diode source ~1 mA. Mode ohms varie wildly (µA à mA). Lectures *qualitatives*, pas VF ou R précis.
- Test en circuit : **Non fiable.** Résistances parallèles, condensateurs, autres jonctions faussent les lectures. Valide seulement pour courts-circuits/ouvertures francs si on connaît le schéma.
- MOSFETs/IGBTs : Test différent (capacité grille, diode de corps). Cette procédure est pour BJTs seulement.
Ce test confirme *l'intégrité des jonctions*, pas *le gain (β)* ni *la vitesse de commutation*. Pour tests paramétriques, utiliser un traceur de courbes ou testeur de composants.